• 1.摘要
  • 2.基本信息
  • 3.机构介绍
  • 4.成长历程
  • 5.综合检测服务
  • 6.技术支持中心
  • 7.验货服务
  • 7.1.检验服务
  • 7.2.审厂服务
  • 7.3.包装
  • 7.4.物流
  • 8.参考资料

中国电子元器件中心实验室

1中国电子元器件中心实验室,简称CECC实验室(CECCLab),为全球第三方元器件检测机构之一,国家重点支持实验室,中国半导体行业协会会员,国际IECQ-CECC质量标准体系中国分会员。CECC实验室测试分析标准依据国际JEDEC标准、MIL-STD-883标准、IPC标准。

CECC经过15年技术积累,我们的服务范围贯通集成电路设计、半导体后道加工、系统级电子电路设计;集成电路及电子产品检测、失效分析。我们已在深圳、香港、陕西设立了2座工厂、4个实验室,拥有价值数亿元各类仪器设备和EDA开发工具,目前雇员超过300人。我们的服务对象包括集成电路设计公司、EMS电子制造工厂、军工及航空航天制造企业、全球电子元器件分销商。

基本信息

  • 中文名

    中国电子元器件中心实验室

  • 外文名

    China Electronic Component Center Laboratory

  • 简称

    CECC实验室

  • 性质

    全球第三方元器件检测机构之一

  • 服务范围

    集成电路设计服务

机构介绍

实验室内部

中国电子元器件中心实验室,简称CECC实验室(CECCLab),为全球第三方元器件检测机构之一,国家重点支持实验室,中国半导体行业协会会员,国际IECQ-CECC质量标准体系中国分会员。CECC实验室测试分析标准依据国际JEDEC标准、MIL-STD-883标准、IPC标准。

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CECC实验室整合国家集成电路基地、香港科技大学中国科学研究院北京大学华南理工大学的硬件资源,铸造一个国内最全面、最高端的IC测试验证平台。现拥有国际最先进的IC测试机及分析设备有:美国Credence公司Electra MSR 100MHz、日本 VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统、Treadyne J750混合信号测试机、ADVANTEST R6741A多路精密电源、ADVANTEST TR6846数字万用表、安捷伦16804A高端逻辑分析仪、安捷伦81133A 3.5GHz信号发生器、安捷伦E4443A频谱仪、Verigy V50测试机、泰克DSA70604 6GHz示波器、泰克TDS2024示波器德国、Rohde&Schwarz ZVA40高性能网络分析仪器、德国Rohde&Schwarz NRP功率计;失效分析仪器包括:DECAP开封去盖机、SEM扫描电镜、X-Ray透视机、EMMI微光显微镜、FIB聚焦离子束微线路修复机、可靠度及环境分析仪器包括:ESD及Latch-up测试机、高低温冲击实验箱、RoHs萤光检测仪等,其总价值超过两亿人民币,已基本解决了中高端IC测试分析的需求,为国内IC产业测试验证环节弥补了空缺。

经过多年经营,CECC实验室已成功完成IC测试验证的案例近两万多种,积累了丰富的经验,编译了IC测试验证专业资料19本,为国内业界最实用教材之一。CECC实验室以学术研究为导向,以市场需求为动力,为国内外中高端IC设计企业、EMS制造工厂、重量级IC分销售商提供专业化的IC测试验证及元器件失效分析服务。

成长历程

2003年6月,广州公司成立, 开始了以MCU、DSP为核心的电子产品设计,及电子元器件质量管理的技术服务 工作;2006年1月,IC测试验证技术服务正式开始,成为集成电路产业孵化器的重要成员之一;2006年3月,CECC培训中心开始对外营业;2006年10月,加入中国半导体行业协会;2007年3月,成立全球性第三集成电路检测服务中心,标志着国际化集成电路测试验证业务正式启动;2007年8月,加入深圳市半导体行业协会;2008年4月,深圳公司成立,以中高端集成电路测试验证设备研发的项目开始启动;2009年10月,集成电路设计分公司在深圳正式成立,开始了IC设计的征途。

综合检测服务

一、集成电路测试验证

1、 MPW打样(芯片样品)阶段测试方案开发

为IC设计公司提供封装设计、测试板卡制作、测试程序开发及调试等服务,并协助IC设计人员优化电路。

2、 半导体后道代工服务

我们提供4-12英寸晶片的测试、减薄、切割、挑粒、封装、成测、编带等后道加工服务,目前月产能:中 测50K、切割120KK、成测140KK。

3、 来料集成电路测试筛选服务

CECC制定了6级检测标准,专门为电子元器件分销商及电子终端制造工厂分拣出高品质器件:

级别一、真实性检验(简称AIV):判定器件是否符合指定文件或客户特定要求;

级别二、直流特性参数测试(简称DCCT):又称静态参数测试;

级别三、关键功能检测(KFT):又称为主要功能检测,是一种动态测试方法;