JTAG

JTAG是联合测试工作组（Joint Test Action Group）的简称，是在名为标准测试访问端口和边界扫描结构的IEEE的标准1149.1的常用名称。此标准用于验证设计与测试生产出的印刷电路板功能。

1990年JTAG正式由IEEE的1149.1-1990号文档标准化，在1994年，加入了补充文档对边界扫描描述语言（BSDL）进行了说明。从那时开始，这个标准被全球的电子企业广泛采用。边界扫描几乎成为了JTAG的同义词。

在设计印刷电路版时，当前最主要用在测试集成电路的副区块，而且也提供一个在嵌入式系统很有用的调试机制，提供一个在系统中方便的"后门"。当使用一些调试工具像电路内模拟器用JTAG当做信号传输的机制，使得程序员可以经由JTAG去读取集成在CPU上的调试模块。调试模块可以让程序员调试嵌入式系统中的软件。

基本信息

中文名
联合测试行为组织
外文名
Joint Test Action Group
简写
JTAG
成立时间
1985 年

JTAG工作原理

PC控制JTAG：用JTAG电缆连接PC的打印端口或者USB或者网口。最简单的是连接打印端口。

TMS：在每个含有JTAG的芯片内部，会有个JTAG TAP控制器。TAP控制器是一个有16个状态的状态机，而TMS就是这玩意的控制信号。当TMS把各个芯片都连接在一起的时候，所有的芯片的TAP状态跳转是一致的。下面是TAP控制器的示意图：

图1

改变TMS的值，状态就会发生跳转。如果保持5个周期的高电平，就会跳回test-logic-rest，通常用来同步TAP控制器；

通常使用两个最重要的状态是Shift-DR和Shift-IR，两者连接TDI和TDO使用。

IR：命令寄存器，你可以写值到这个寄存器中通知JTAG干某件事。每个TAP只有一个IR寄存器而且长度是一定的。

DR：TAP可以有多个DR寄存器，与IR寄存器相似，每个IR值会选择不同的DR寄存器。

电气特性

JTAG的接口是一种特殊的4/5个接脚接口连到芯片上，所以在电路版上的很多芯片可以将他们的JTAG接脚通过Daisy Chain的方式连在一起，并且集成电路只需连接到一个“JTAG端口”就可以访问一块印刷电路板上的所有集成电路。这些连接引脚是：

1.
TDI（测试数据输入）
2.
TDO（测试数据输出）
3.
TCK（测试时钟）
4.
TMS（测试模式选择）
5.
TRST（测试复位）可选。

因为只有一条数据线，通信协议有必要像其他串行设备接口，如SPI一样为串列传输。时钟由TCK引脚输入。配置是通过TMS引脚采用状态机的形式一次操作一位来实现的。每一位数据在每个TCK时钟脉冲下分别由TDI和TDO引脚传入或传出。可以通过加载不同的命令模式来读取芯片的标识，对输入引脚采样，驱动（或悬空）输出引脚，操控芯片功能，或者旁路（将TDI与TDO连通以在逻辑上短接多个芯片的链路）。TCK的工作频率依芯片的不同而不同，但其通常工作在10-100MHz（每位10-100ns）。

当在集成电路中进行边界扫描时，被处理的信号是在同一块IC的不同功能模块间的，而不是不同IC之间的。

TRST引脚是一个可选的相对待测逻辑低电平有效的复位开关——通常是异步的，但有时也是同步的，依芯片而定。如果该引脚没有定义，则待测逻辑可由同步时钟输入复位指令而复位。

尽管如此，极少消费类产品提供外部的JTAG端口接口，但作为开发样品的残留，这些接口在印刷电路板上十分常见。在研发后，这些接口常常为反向工程提供了非常良好的途径。

国际标准

JTAG

JTAG也是一种国际标准测试协议（IEEE1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现今多数的高级器件都支持JTAG协议,如DSP、FPGA、ARM、部分单片机器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。相关JTAG引脚的定义为：TCK为测试时钟输入；TDI为测试数据输入，数据通过TDI引脚输入JTAG接口；TDO为测试数据输出，数据通过TDO引脚从JTAG接口输出；TMS为测试模式选择，TMS用来设置JTAG接口处于某种特定的测试模式；TRST为测试复位，输入引脚，低电平有效。GND

TI还定义了一种叫SBW-JTAG的接口，用来在引脚较少的芯片上通过最少的利用引脚实现JTAG接口，它只有两条线，SBWTCK，SBWTDIO。实际使用时一般通过四条线连接，VCC，SBWTCK，SBWTDIO，GND，这样就可以很方便的实现连接，又不会占用大量引脚。