科学出版社，作者吉昂

作者： 吉昂 陶光仪 定价： ¥ 29.00 元

出版社： 科学出版社 出版日期： 2003年05月

ISBN： 7-03-010868-X/O.1674 开本： 16 开

类别： 分析化学及仪器 页数： 295 页

简介

本书为《中国科学院研究生教学丛书》之一。本书系统地介绍了X射线荧光光谱分析的理论、测试技术和实际应用，以及近年来的重要进展。书中重点论述了波长色散和能量色散X射线荧光光谱所涉及的基本理论和实验技术、理论强度计算公式、基体校正、样品制备、定量分析和光谱仪结构性能等内容。此外，本书还对提出的半定量分析、薄膜和镀层分析、不确定度评定、化学计量学研究在X射线光光谱分析中的应用及普通波长色散X射线荧光光谱仪在化学态分析中的应用领域作了专门论述。

目录

第一篇 X射线荧光光谱基本原理

第一章 X射线物理学基础

1·1 X射线的本质和定义

1·2 X射线光谱

1·3 莫塞莱定律

1·4 X射线与物质的相互作用

1·5 布拉格定律

1·6 俄歇效应和荧光产额

1·7 谱线分数

参考文献

第二章 X射线荧光强度的理论计算