内容简介

Rietveld法全谱拟合已成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章，侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。1

第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试，并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。1

《X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》一书具有很强的实用性，可以作为材料、化学以及地质等领域学习X射线多晶衍射Rietveld法结构精修和GSAS软件的研究人员的入门参考书，也可以作为本科生、研究生教学的实验教材。1

图书目录

第1章Rietveld法结构精修

1.1Rietveld法结构精修发展概况

1.2Rietveld法基本原理

1.3参数修正顺序与结果判据

1.3.1参数修正的顺序

1.3.2精修的数值判据

1.3.3精修的图示判断

1.4精修过程出现的问题和对策

1.5Rietveld法结构精修的应用

1.5.1修正晶体结构

1.5.2相变研究和点阵常数测定

1.5.3物相定量分析

1.5.4晶粒尺寸和微应变测定1

第2章EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍