产品简介

于RD研发单位对光学产品多方位分析及QC　品管单位线上快速量测使用，CM系列于1997年为CCFL、BLU、LCM或LCD量测光学特性三波长光源专业开发。其特性可符合各光学产品量测，并依人眼特性设计，符合自然观测特性，比一般辉度检验设备使用2°、1°、0.2°、0.1°视野观测更贴近真实性

※高精度、快速之光学辉度、色度检测：

辉度范围量测：10-20，000cd／m2，一次计算各单点区域及全量测区域辉度及色度之最大值、最小值、均一度----。辉度精度：±3％，辉度再现性：±1％，每10小时误差1％以内，色度量测：CIE（x，y）色度，色度精度：±0.003、色度再现性±0.002，于特定光源条件下

※点、线、面全方位量测：

单点量测数可自单点至百万点以上，一次性完成　使用者可自设量测取点区域点数，并可量测整个光学平面精细掌握辉度及色度之均匀值表现，快速比对制程不良原因

※超高检测效率：

平均一个光学工件2秒内准确检测辉度色度所有资讯，一天可检测一万个工件以上，并统计分析所有产品Ca、Cp、Cpk品质趋势。

※2D、3D判图系统、FLICK---等超强光学分析功能

透过3D高原图及差异微分图可快速依检验经验判读光学特性现象，并寻找LCD、B／L异常原因，并可FLICK对多点作稳定性监控分析

※高准度机差校正补正：

解决厂商光学量测机台机差严重问题，可储存各种产品及各客户不同光学量测机之校正资料，并记录相关校正档之背景资讯，提供出货检验（OQC）与客户之进料检验（IQC）相互验证之依据，避免彼此机台精度误差导致客诉问题，系统并分现场操作者模式与研发工程师模式，依使用者之工作特性设计适当操作介面。

※强大品质统计分析功能

品质等级分析功能：设定各管制项目规范判定产品等级分类，良品或不良品、合格不合格、产出品质等级分析图形

并提供色阶分析图与辉度色阶示意图，亦可增购Flicker，　Response　Time模组

※Particle缺陷检查　（选购模组）

透过影像处理，快速检查LCM／LCD光学特性之污点缺陷，并计算其面积与个数、判读其外观形状、面积比例、尺寸，并作特性分析及品质等级