人物简介

1988年7月本科毕业于电子科技大学电子材料与元器件系，获得学士学位；1991年3月毕业于电子科技大学微电子与固体电子学院，获得硕士学位并留校任教。

主要从事扫描电子显微镜、X-射线荧光光谱和扫描探针显微镜SPM(包括扫描隧道显微镜STM、原子力显微镜AFM、磁力显微镜MFM、电力显微镜EFM等)的测试方法研究以及材料与元器件分析表征等科研工作。

主要研究方向为电子薄膜与集成器件的表、界面微区电磁性能表征。

人物成就

作为课题副组长和主研人员先后参与国家重大基础研究项目和国防科工委预研课题多项。

在国内外学术刊物及国际学术会议发表论文30余篇，论文被SCI、EI收录15篇。

参加编写《论表面分析及其在材料研究中的应用》(科学技术文献出版社，2002)和《材料微观分析实验技术》(电子科技大学出版社)。

已获得授权的国家发明专利3项。

承担研究生学位课程《现代材料分析技术》、《材料分析实验技术》和本科生《材料分析基础》的课堂教学及实验。1

参考资料