基本介绍
作 者:罗立强,詹秀春,李国会 编著
出 版 社:化学工业出版社
出版时间: 2008-1-1
字 数: 237000
页 数: 188
开 本: 16开
纸 张: 胶版纸
I S B N : 9787122007179
包 装: 精装
所属分类: 图书 >> 工业技术 >> 仪表工业 >> 仪器
定价:¥35.00 1
内容简介
本书是“分析仪器使用与维护丛书”之一。
本书分十二章介绍了X射线荧光光谱分析的原理,仪器主要部件,定性与定量分析方法,基体校正与数据处理方法,样品制备技术,具有共性的仪器校正方法、日常维护知识和故障判断原则等。内容丰富、新颖、翔实,在探测器技术、基体校正、样品制备、仪器维护等章节具有特色。
本书可供X射线荧光光谱分析工作者学习参考,同时也可作为高等学校与仪器分析相关专业师生的参考书。
目录
第一章 绪论
第一节 X射线荧光光谱的产生及其特点