内容简介

全书分为四个部分。1、阐述了电子元器件失效分析中的理论基础，包括有关原子物理学、材料学、化学、冶金学及元器件的基本工作原理。介绍了与元器件失效相关的制造工艺和技术。2、论述了失效的物理模型，介绍了失效分析程序、常用的失效分析方法和技术，以及用于失效分析的较先进的微分析技术。3、结合具体的元器件：微电子器件、阻容元件、继电器及连接器、光电子器件和真空电子器件，以及元器件的引线和电极系统的失效模式和失效机理加以剖析，提出了提高电子元器件可靠性的措施。4、阐述了元器件静电放电失效的原理和防护；元器件的辐射效应和抗辐射加固技术。

本书供从事各类电子元器件的研制、生产和使用的科技人员、管理人员、质量和可靠性工作者学习与参考，也可供高等学校电子、电工、光电子、真空电子、材料和信息类等相关专业的师生阅读。

目录

绪论

0.1 信息时代与电子元器件

0.2 电子元器件的质量和可靠性

第1章 电子元器件的理论基础

1.1 固体及半导体导电理论简介

1.2 基础元件

1.3 pn结

1.4晶体三极管

1.5 半导体表面概论

1.6 MOS场效应晶体管（MOSFET）

1.7 半导体的光-电子学效应

1.8 真空电子器件基础

1.9 相图

1.10 金属膜及金属化层

习题与思考题